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日立台式XRF镀层测厚仪FT230
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日立台式XRF镀层测厚仪FT230

FT230台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间。日立工程师意识到样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的时间，因此推出了一个有着突破性的分析仪，其可以有效地 "设置 "自己，使得在过程中可以分析更多的零件。
名称： 镀层测厚仪
规格： 套
品牌： HITACHI日立
型号： FT230
特点： 简化和加速零件和组件的测试，从而更轻松地在更短的时间内测量更多零件
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